用于探测被检物的内部缺陷采用（　　）。

超声和射线照相方法主要用于探测被检物的内部缺陷；渗透方法仅用于探测被检物表面开口的缺陷；磁粉和电磁(涡流)方法用于探测被检物的表面和近表面缺陷。